本表格中的竞品数据来自公开渠道及市场调研，更新时间为2024年11月27日。
| 闩锁(LU)和瞬态闩锁(TLU)标准对比表 | ||||||||||
| 闩锁文档 | 测试条件 | 被测器件类型 | 测试管脚 | 测试脉冲参数 | 失效判断标准 | |||||
| 类别 | 标准 | 测试类型 | 上升时间 | 下降时间 | 持续时间 | 过冲 | ||||
| 闩锁 LU |
JESD78F.01-2023 | 过压测试 | 1.5 倍 Vmax或者MSV（应用二者中较小的） | NMOS, CMOS, BiCMOS, SOI | 电源管脚 | 5 us — 5 ms | 5 us — 5 ms | 2*tr — 1 s (典型10ms ) |
< 测试脉冲电压的5% | Inom < 25 mA时, 测试后电流超过Inom + 10 mA，判定闩锁发生，或者 Inom > 25 mA时, 测试后电流超过 1.4*Inom，判定闩锁发生 |
| I-Test | 电流源测试，电压合规 | IO管脚 | < 测试脉冲电流的5% | |||||||
| E-Test | 电压源测试，电流合规： 在最大工作电压下 Inom超过+- 100mA | IO管脚 | < 测试脉冲电压的5% | |||||||
| JESD78E-2016 | 过压测试 | 1.5 倍 Vmax或者MSV（应用二者中较小的） | NMOS, CMOS, BiCMOS, SOI | 电源管脚 | 5 us — 100 ms | 5 us — 100 ms | 2*tr — 1 s | 测试脉冲电压的+/- 5% | Inom < 25 mA时, 测试后电流超过Inom + 10 mA，判定闩锁发生，或者 Inom > 25 mA时, 测试后电流超过 1.4*Inom，判定闩锁发生 |
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| I-Test | 电流源测试，电压合规 | IO管脚 | 1 us — 5 ms | 1 us — 5 ms | 2*tr — 1 s | 测试脉冲电流的+/- 5% | ||||
| JESD78D-2010 | 过压测试 | 1.5 倍 Vmax或者MSV（应用二者中较小的） | NMOS, CMOS, BiCMOS, SOI | 电源管脚 | 5 us — 5 ms | 5 us — 5 ms | 2*tr — 1 s | 测试脉冲电压的+/- 5% | Inom < 25 mA时, 测试后电流超过Inom + 10 mA，判定闩锁发生，或者 Inom > 25 mA时, 测试后电流超过 1.4*Inom，判定闩锁发生 |
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| I-Test | 电流源测试，电压合规 | IO管脚 | 测试脉冲电流的+/- 5% | |||||||
| 瞬态闩锁 TLU |
ANSI/ESD SP5.4.1-2022 | 电压脉冲过压测试 | 电压测试 : 0至失效 电压步进: <=0.1 V |
NMOS, CMOS, BiCMOS, SOI | 电源管脚 | <3ns <10ns |
<3ns <10ns |
100ns 10us |
Inom < 25 mA时, 测试后电流超过Inom + 10 mA，判定闩锁发生，或者 Inom > 25 mA时, 测试后电流超过 1.4*Inom，判定闩锁发生 |
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| 电流脉冲过流测试 | 电流测试 : 0至失效 电流步进: <10 mA |
IO管脚 | <3ns <10ns |
<3ns <10ns |
100ns 10us |
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