EM603-12 IC-Stripline TEM 小室(DC-12 GHz,最高 1kV 脉冲)

1.    描述

ESDEMC 的 EM603-12 是一款直流到 12 GHz 的 IC-Stripline TEM 小室,能够生成电磁场用于测试小型设备,如集成电路、无线通信模块等。通过 EM603-12 的输入端口施加外部测试信号,会在 TEM 小室内部生成一个稳定且可预测的 TEM 测试场。设备在 TEM 小室内传输时的辐射场可以通过端口使用测试接收器进行测量。

其独特的紧凑且经济的设计已针对标准 TEM 小室频率范围之外的中等精度测量进行了优化。EM603-12 的工作原理与 TEM 小室基本相同。测试体积内的电场和磁场与输入电压成正比,与小室高度成反比。如果有辐射物体插入小室内部,向输入端口辐射的波将通过传输线引导,并通过接收器(如频谱分析仪)在输入端进行测量。通过这种方式,可以定量测量设备的射频辐射。由于该装置具有非常宽的频带,因此在电磁干扰(EMI)、电磁兼容性(EMS)、接收器灵敏度测试等领域有广泛应用。

2.   特点

  • 最高支持 12 GHz 带宽(超出标准 TEM 小室的 1 GHz 带宽)
  • 最大注入功率 53 dBm 可测试高达 20 kV/m

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描述

1.    描述

ESDEMC 的 EM603-12 是一款直流到 12 GHz 的 IC-Stripline TEM 小室,能够生成电磁场用于测试小型设备,如集成电路、无线通信模块等。通过 EM603-12 的输入端口施加外部测试信号,会在 TEM 小室内部生成一个稳定且可预测的 TEM 测试场。设备在 TEM 小室内传输时的辐射场可以通过端口使用测试接收器进行测量。

其独特的紧凑且经济的设计已针对标准 TEM 小室频率范围之外的中等精度测量进行了优化。EM603-12 的工作原理与 TEM 小室基本相同。测试体积内的电场和磁场与输入电压成正比,与小室高度成反比。如果有辐射物体插入小室内部,向输入端口辐射的波将通过传输线引导,并通过接收器(如频谱分析仪)在输入端进行测量。通过这种方式,可以定量测量设备的射频辐射。由于该装置具有非常宽的频带,因此在电磁干扰(EMI)、电磁兼容性(EMS)、接收器灵敏度测试等领域有广泛应用。

2.   特点

  • 最高支持 12 GHz 带宽(超出标准 TEM 小室的 1 GHz 带宽)
  • 最大注入功率 53 dBm 可测试高达 20 kV/m

3.    应用

  • 集成电路的电磁抗干扰测试
  • 集成电路的电磁辐射测试
  • 集成电路的静电放电/浪涌场易损性测试
  • 设计满足以下标准要求:
    • SAE 1752-3
    • IEC 61967-2
    • IEC 61967-8
    • IEC 62132-2
    • IEC 62132-8

4.    技术规格

频率范围 DC 到 12 GHz(高次不期望模式导致的第一个尖峰超过 12 GHz)
TEM 小室阻抗 50 Ω ± 5% 标称值
标准 IEC 61967-2 IEC 61967-8 IEC 62132-2 IEC 62132-8
VSWR DC – 12 < 1.5 DC – 12 < 1.5 DC – 3 < 1.2 DC – 3 < 1.25
插入损耗(S21) DC – 12 < 1 dB DC – 12 < 1 dB DC – 12 < 1 dB DC – 12 < 1 dB
有效隔离板到壁高度 5 mm
TEM 小室中心的电场强度 141 V/m @ 1V(最大 20 kV/m @ 200 W-rms,200 kV/m @ 1 kV 脉冲)
TEM 小室中心的磁场强度 = 电场强度 / 377(A/m)
RF 连接器 SMA
最大输入功率 200 W-rms,    53 dBm
最大输入电压 100 V-rms,40 dBV,1 kV TLP 脉冲
DUT 端口尺寸 35 (W) x 35 (L) mm
推荐的最大 DUT 尺寸 15.125 (W) x 15.125 (L) x 2.5 (H) mm
TEM 小室尺寸 113 (W) x 52 (D) x 13.4 (H) mm
重量 约 0.5 kg

5.    订购信息

序号 部件号或选项号 描述 状态
1 EM603-12 EM603 IC Stripline TEM 小室,DC-12 GHz Active

 

文件

EM603-12 IC-Stripline TEM 小室(DC-12 GHz,最高 1kV 脉冲)数据手册