传输线脉冲测试，又称为 TLP 测试，是于对静电防护半导体器件进行描述的一种常用方法。 在传输线脉冲测试中，通过特定长度的同轴电缆，以持续增高电平的方式，高电流脉冲将注入被测设备 (DUT) 。 以非常快速的传输线脉冲为例，施加于DUT端的脉冲信号具有代表人体模型 (HBM),充电设备模型（CDM）等模型的电流幅值和存续时间等特征。 依据DUT的瞬态响应，在TLP测试中，被测组件端的入射和反射信号会被探究，以此画出 ESD 保护组件对脉冲的响应电压–电流 (V-I) 曲线。 传输线脉冲电流信号可以达到安培量级，TLP 测试结果能显示 ESD 保护组件的的开启、回弹和保持等特性。传输线脉冲测试在两个重要方面具有优势。 首先，在新工艺技术和知识产权 (IP)方面，TLP 可用于描述 测试芯片上的输入/输出 (I/O) 焊盘单元。 TLP 结果有助于分析仿真参数以及对不同 ESD 保护方案的优缺点进行定性比较，对创新焊盘单元设计非常有用。 其次，TLP 通常与传统的、基于标准的组件 ESD 测试相结合使用, 可用作电气故障分析工具。我方的TLP 测试服务，可根据顾客要求的测试情境逐案报价； 并以预估的工程时长来执行测试并完成客户要求的报告。 请填写下面的服务要求表以及您的测试配置以供报价。
相关标准: ANSI/ESD STM5.5.1-2016, IEC 62615:2010
测试资质（可客订服务）:
TLP 和 VF-TLP 测试可以为ESD防护器件提供综合的性能描述。常见的 100ns 脉冲宽度的标准TLP通常用于生成 ESD防护器件的IV 曲线，该曲线可以用于分析器件的许多特性，例如动态电阻、触发电压、保持电压和电流，以及二次击穿 (Vt2/ 2)值等等。短脉冲宽度的VF-TLP 常用于了解 DUT 的瞬态响应。可以捕捉器件的初始电压过冲和器件开启的瞬态，并在设计电路时选择最佳保护器件方面发挥重要作用。同时必须提到的是，在分析这些数据时，了解受保护的设备或电路结构和系统运行条件也十分重要。
在电路设计中，信号完整性很重要。应选择在所需特定频段中低损耗的器件。
ESDEMC 的 S21 测量服务将为客户提供客供样本的插入损耗测试（频率可达 18G Hz）。同时可根据要求提供温度和直流偏置等控制条件进行测试。
无论是在低频还是高频应用中，电容都是一个对电路设计至关重要的元件参数。为保证信号完整性和电路的运行，保护器件和电容器通具有预期的电容值十分必要。由于 DUT 端的频率、温度和直流偏置等条件，电容可能与预期大不相同。ESDEMC 的 VNA 电容测量服务允许在特定的直流偏置和特定温度等条件下进行电容测量。VNA 的 S 参数 电容测试可以高达 18G Hz 。
无论是在低频还是高频应用中，电容都是一个对电路设计至关重要的元件参数。为保证信号完整性和电路的运行，保护器件和电容器通具有预期的电容值十分必要。由于 DUT 端的频率、温度和直流偏置等条件，电容可能与预期大不相同。
ESDEMC 的 LCR 测量允许在特定的直流偏置电平和温度下进行测量。此测试可以测量低于 VNA 测量能力之外的的低频段。典型的测量频率取自 1 MHz – 10 MHz。
高频保护装置常会产生有害的和不必要谐波。在为设计电路选择合适的设备时，这些不良谐波的作用通常无法忽视。ESDEMC 的谐波生成测量服务提可供助于设计决策的谐波数据。基本的900MHz、2.4GHz 和 5GHz 等频率信号可以在 -30dBm 到 +30dBm 的功率下注入 测试端DUT，产生的二次和三次谐波可被测量。同时，此服务可根据要求测量自定义频率和功率范围。
对很多产品设计的=来说，通过IEC的 ESD 抗扰度测试是必须的，其中大多是系统级别测试。系统级别的测试在 IEC 标准中都有很好的概述，通常通过/失败判定结果。设备级别的测试也在行业中进行，但这些测试通常也只是以通过/失败作为评断标准。ESDEMC 的 ESD 发生器 钳位测量提供的不仅仅是设备级 的ESD 模拟器测试的通过或失败数据。测量将额外提供每个施加的 ESD 脉冲的瞬态电压，以便更好地了解 DUT 的 ESD 钳位响应。举例，标准中的ESD 模拟器脉冲电压包括 +/-8kV，此服务的ESD发生器电压可根据客户要求应用其他水平的电压。
根据 TLP 和 vf-TLP 测试结果，ESDEMC 可根据要求生成器件模型。正负 IV 特性将与 TLP 结果匹配，瞬态 vf-TLP 捕捉的器件开启响应将在各种脉冲波形下被建模。电路板级别的建模也是可能的，但应在测试之前进行进行讨论。ADS 和 Spice 是用于生成这些模型的标准仿真程序，当涉及知识产权时，可以对模型进行“分类”。这允许顾客在不泄露内部模型组件信息的情况下与他人共享他们的设备模型。
尽管TLP 提供高达 100 纳秒的净矩形脉冲波形（ 可能含有几微秒的下垂脉冲），但某些测试应用中需要更长的脉冲宽度。对于这些需求，ESDEMC 提供长脉冲 EOS 系列测试。EOS系列产品 是一种固态脉冲发生器，可以以非常精细的步长输出 200ns 到 1ms 的长脉宽干净矩形脉冲。默认情况下，这是一个与 TLP 类似的 50 欧姆脉冲发生器，但如果需要，可以配置不同的输出阻抗。这在更高电流的脉冲应用总中可能很有用。50 ohm 阻抗的EOS 可输出高达 1kV 的脉冲。这些测试通常可用于生成 SOA 曲线、Wunsch-Bell 曲线或仅分析较长时间范围内的瞬态行为。
许多保护设备都需要浪涌测试才能进行性能评测。ESDEMC 提供其低压浪涌测试服务，以帮助了解被测组件的性能。ESDEMC 的浪涌测试系统将向器件中注入浪涌脉冲，捕获瞬态电压和电流，测试故障条件，然后进入下一个脉冲级别。自动化的浪涌测试不仅使 ESDEMC 有别于其他浪涌测试，而且 ESDEMC 的测试仪可输出 500mA 至 >250A 的线性波形。通常标准可用的波形是 8/20us 和 10/1000us 浪涌。
相关标准：
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电缆放电通常发生于当电缆（例如以太网、HDMI 或 USB）插入其电位差足以导致静电放电的系统时。这些放电可能对电路板或系统有害。电缆充电水平、电缆长度和引脚接触顺序等因素都会影响放电的严重程度。ESDEMC 提供了将特定长度和电压的不同电缆类型放电到您的电路板或系统中的方法。以此可以控制引脚的接触顺序，并且可以在放电前设置每个引脚的电气状态。这个方法最多可保存和捕获8个引脚的放电电流波形，并可根据客户要求进行故障分析。
在专门从事研发，生产，制造，和测试服务方面，ESDEMC Technology LLC是一只经验丰富的技术团队。
我们提供的的设计领域涵盖以下方向：
