描述
1. 描述
ESDEMC 的 EM603-12 是一款直流到 12 GHz 的 IC-Stripline TEM 小室,能够生成电磁场用于测试小型设备,如集成电路、无线通信模块等。通过 EM603-12 的输入端口施加外部测试信号,会在 TEM 小室内部生成一个稳定且可预测的 TEM 测试场。设备在 TEM 小室内传输时的辐射场可以通过端口使用测试接收器进行测量。
其独特的紧凑且经济的设计已针对标准 TEM 小室频率范围之外的中等精度测量进行了优化。EM603-12 的工作原理与 TEM 小室基本相同。测试体积内的电场和磁场与输入电压成正比,与小室高度成反比。如果有辐射物体插入小室内部,向输入端口辐射的波将通过传输线引导,并通过接收器(如频谱分析仪)在输入端进行测量。通过这种方式,可以定量测量设备的射频辐射。由于该装置具有非常宽的频带,因此在电磁干扰(EMI)、电磁兼容性(EMS)、接收器灵敏度测试等领域有广泛应用。
2. 特点
- 最高支持 12 GHz 带宽(超出标准 TEM 小室的 1 GHz 带宽)
- 最大注入功率 53 dBm 可测试高达 20 kV/m
3. 应用
- 集成电路的电磁抗干扰测试
- 集成电路的电磁辐射测试
- 集成电路的静电放电/浪涌场易损性测试
- 设计满足以下标准要求:
- SAE 1752-3
- IEC 61967-2
- IEC 61967-8
- IEC 62132-2
- IEC 62132-8
4. 技术规格
| 频率范围 | DC 到 12 GHz(高次不期望模式导致的第一个尖峰超过 12 GHz) | |||
| TEM 小室阻抗 | 50 Ω ± 5% 标称值 | |||
| 标准 | IEC 61967-2 | IEC 61967-8 | IEC 62132-2 | IEC 62132-8 |
| VSWR | DC – 12 < 1.5 | DC – 12 < 1.5 | DC – 3 < 1.2 | DC – 3 < 1.25 |
| 插入损耗(S21) | DC – 12 < 1 dB | DC – 12 < 1 dB | DC – 12 < 1 dB | DC – 12 < 1 dB |
| 有效隔离板到壁高度 | 5 mm | |||
| TEM 小室中心的电场强度 | 141 V/m @ 1V(最大 20 kV/m @ 200 W-rms,200 kV/m @ 1 kV 脉冲) | |||
| TEM 小室中心的磁场强度 | = 电场强度 / 377(A/m) | |||
| RF 连接器 | SMA | |||
| 最大输入功率 | 200 W-rms, 53 dBm | |||
| 最大输入电压 | 100 V-rms,40 dBV,1 kV TLP 脉冲 | |||
| DUT 端口尺寸 | 35 (W) x 35 (L) mm | |||
| 推荐的最大 DUT 尺寸 | 15.125 (W) x 15.125 (L) x 2.5 (H) mm | |||
| TEM 小室尺寸 | 113 (W) x 52 (D) x 13.4 (H) mm | |||
| 重量 | 约 0.5 kg | |||
5. 订购信息
| 序号 | 部件号或选项号 | 描述 | 状态 |
| 1 | EM603-12 | EM603 IC Stripline TEM 小室,DC-12 GHz | Active |





